Авторы: E.G.Loewen, M.Neviere, D. Maystre
Источник: Appl.Opt., vol.16, No.10, pp.2711-2721(1977)

Разработанная недавно точная теория использовалась для исследования поведения диффракционной эффективности, как решеток с блеском, так и голографических. Для оказания помощи дизайнерам спектрометрических систем мы рассмотрели всю область углов блеска для треугольного профиля и все модуляции синусодального гофра в первом и втором порядках. Некоторые типы установок включали в себя аллюминий. Дана полезная классификация решеток обоих типов при использовании их от близкого УФ до ИК области. Представлены сравнения, показывающие хорошое согласие между теорией и экспериментом.

На французском
Авторы: G.Cerutti-Maori, R.Petit,M.Cadilhac
Источник: C.R.Acad.Sc.Paris, v.268,pp.92-95

Точный метод решения задачи дифракцонной эффективности решетки с произвольным методом

Авторы: M.Neviere
Источник: Appl.Opt.,vol.30,No.31,pp.4540-4547(1991)

В статье изучены характеристики фоточувствительных решеток с треугольным профилем, использованных на пропускание, в видимой и в близкой инфракрасной области при помощи электромагнитной теории. Устройства, рассмотренные здесь, связывают решетки с треугольным профилем с призмой на гипотенузе в конфигурации, называемой grism, таким образом, что для выбранной длины волны отколения от призмы и от решетки компенсируют друг друга. Для помощи дизайнерам спектрометрических систем мы покрыли всю области длин волн и, соответственно, всех углов наклона решеток. Мы изучили влияние эффективности решетки при увеличении плотности полос и рассмотрели оптимальный выбор угла падения

Источник: ЖТФ, т.46, в.7,стр.1505-1510 (1976)
Авторы: Ж.И.Алферов, Д.Н.Горячев, С.А.Гуревич, М.Н.Мизеров, Е.Л.Портной, Б.С.Рывкин

Изложены различные аспекты исследований, связанных с изготовлением дифрационных решеток на поверхности GaAs методом интерференционного фототравления и их контролем. Теоретически показано, что форма решеток в этом случае, независимо от величины их шага, должна быть синусоидальной. Обсуждены и проверены способы неразрушающего контроля фазовых интерференционных решеток. Показано, что решетки, изготовленные методом интерференционного фототравления, близки по форме к синусоидальным. Указанный метод позволяет получать высокоэффективные решетки с пространственной частотой более 4000 лин./мм.